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  • BAB1G超寬中紅外光束質量分析儀(帶M2測試，光敏面：10.8×8.7mm)

    超寬中紅外光束質量分析儀(帶M2測試，光敏面：10.8×8.7mm) 筱曉光子的紅外光束質量分析儀，可以實現1.2-15μm范圍內的光斑探測和參數分析，空間分析精度可達10μm量級，具有超感光范圍、超大靶面、超高分辨率、多功能軟件等特點。

    更新時間：2025-06-04
    產品型號：BAB1G
    瀏覽量：2321
  • BladeCam2-HR CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm

    BladeCam2-HR CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm 產品應用 連續激光的光束分析 激光和激光系統的現場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²

    更新時間：2024-12-09
    產品型號：
    瀏覽量：1306
  • FS70-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭 可調光通比 C-mount接口)（觀察儀）

    FS70-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭 可調光通比 C-mount接口)（觀察儀） 應用： 切割、修整、校正、 給半導體電路做標記 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。 還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。 ? 可用于紅外光學系統*。

    更新時間：2024-12-09
    產品型號：
    瀏覽量：1401
  • CUBE-ER100偏振消光比測試儀

    CUBE-ER100偏振消光比測試儀 總覽 CUBE-ER100是一款基于旋轉偏振器的偏振消光比（PER）測量儀，適用于光纖和自由空間光學應用。由于其緊湊的尺寸和高達每秒50點的快速測量速度，它可以很容易地集成到保偏光纖自動對準系統中。

    更新時間：2024-12-09
    產品型號：
    瀏覽量：1411
  • FS70Z-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1x-2x管鏡頭 C-mount) （觀察儀）

    FS70Z-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1x-2x管鏡頭 C-mount) （觀察儀） 應用： 切割、修整、校正、 給半導體電路做標記 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。 還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。 ? 可用于紅外光學系統*。

    更新時間：2024-12-09
    產品型號：
    瀏覽量：1405
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