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P760/01_2760nm單模垂直腔面發射激光器
VCSEL-20-M激光控制驅動器
ZNSP25.4-1IR拋光硫化鋅(ZnS)多光譜(透明)窗片 0.37-13.5um 25.4X1.0mm（晶體/棱鏡
CO2激光光譜分析儀
Frequad-W-CW DUV 單頻連續激光器 213nm 10mW Frequad-W
HB-C0BFAS0832x4 QPSK C波段相干混頻器（信號解調/鎖相放大器等）
ER40-6/125截止波長1300nm 高摻雜EDF摻鉺光纖
THL-ZnTe20-500RZNTE（碲化鋅）太赫茲晶體
GD5210Y-2-2-TO46905nm 硅雪崩光電二極管 400-1100nm
SNA-4-FC-UPC日本精工法蘭FC/UPC（連接器/光纖束/光纜）
IRV2000-1X1倍紅外觀察鏡 350-2000nm,分辨率 60lp/mm
NANOFIBER-400-9-SA干涉型單模微納光纖傳感器 1270-2000nm
1030nm超短脈沖種子激光器PS-PSL-1030
高能激光光譜光束組合的光柵 （色散勻化片）
FLEX-BF裸光纖研磨機
S+C+L波段 160nm可調諧帶通濾波器
product
產品分類
超寬中紅外光束質量分析儀(帶M2測試，光敏面：10.8×8.7mm) 產品描述： 筱曉光子的紅外光束質量分析儀，可以實現1.2-15μm范圍內的光斑探測和參數分析，空間分析精度可達10μm量級，具有超感光范圍、超大靶面、超高分辨率、多功能軟件等特點。
更新時間：2024-12-09
產品型號：
瀏覽量：953
BladeCam2-HR CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm 產品應用 連續激光的光束分析 激光和激光系統的現場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²
更新時間：2024-12-09產品型號：瀏覽量：833
FS70-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭 可調光通比 C-mount接口)（觀察儀） 應用： 切割、修整、校正、 給半導體電路做標記 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。 還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。 ? 可用于紅外光學系統*。
更新時間：2024-12-09產品型號：瀏覽量：851
CUBE-ER100偏振消光比測試儀 總覽 CUBE-ER100是一款基于旋轉偏振器的偏振消光比（PER）測量儀，適用于光纖和自由空間光學應用。由于其緊湊的尺寸和高達每秒50點的快速測量速度，它可以很容易地集成到保偏光纖自動對準系統中。
更新時間：2024-12-09產品型號：瀏覽量：890
FS70Z-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1x-2x管鏡頭 C-mount) （觀察儀） 應用： 切割、修整、校正、 給半導體電路做標記 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。 還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。 ? 可用于紅外光學系統*。
更新時間：2024-12-09產品型號：瀏覽量：846
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