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產(chǎn)品中心光學測量儀器光束/光斑質量分析儀
product
產(chǎn)品分類
WinCamD-IR-BB 中遠紅外光束質量分析儀 2-16um 7.5Hz 中遠紅外光束質量分析儀基于相機的光束分析系統(tǒng)是使用極廣泛的，它無法獲得最高分辨率，但是對于低重復頻率脈沖激光、非高斯形狀光束或者一般用途的光束分析應用，相機型光束分析儀是很好的選擇。此外，Dataray光束質量分析儀通用的C/F-Mount接口設計，使外加衰減片、擴束鏡、紫外轉換裝置、紅外轉換裝置更為方便。
更新時間：2025-01-14
產(chǎn)品型號：MP-S-WCD-IR-BB-7.5
瀏覽量：614
超寬中紅外光束質量分析儀(不帶M2測試，光敏面：15.3×12.2mm) 產(chǎn)品描述： 筱曉光子的紅外光束質量分析儀，可以實現(xiàn)1.2-15μm范圍內(nèi)的光斑探測和參數(shù)分析，空間分析精度可達10μm量級，具有超感光范圍、超大靶面、超高分辨率、多功能軟件等特點。
更新時間：2024-12-09產(chǎn)品型號：瀏覽量：961
超寬中紅外光束質量分析儀(帶M2測試，光敏面：10.8×8.7mm) 筱曉光子的紅外光束質量分析儀，可以實現(xiàn)1.2-15μm范圍內(nèi)的光斑探測和參數(shù)分析，空間分析精度可達10μm量級，具有超感光范圍、超大靶面、超高分辨率、多功能軟件等特點。
更新時間：2025-06-04產(chǎn)品型號：BAB1G瀏覽量：1227
BladeCam2-HR CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm 產(chǎn)品應用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²
更新時間：2024-12-09產(chǎn)品型號：瀏覽量：944
BladeCam2-XHR-ND4 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm 產(chǎn)品應用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²
更新時間：2024-12-09產(chǎn)品型號：瀏覽量：814